帶無線射頻功能的電子產品，除了要解決常規EMC干擾問題外，射頻電路和天線與產品中各電路走線、功能組件、關鍵IC和元器件等部件之間，也會發生電磁干擾問題。主要表現為射頻相關信號干擾其他部件，導致性能功能的下降或喪失。另外，由于產品布局布線、器件選型不佳等原因，產品內一些器件在工作時產生的無意發射電磁噪聲也會干擾到射頻電路和天線，導致射頻靈敏度指標的下降，從而影響產品的無線性能。以上兩類問題的解決，必須要能夠基于實際場景評估干擾風險，準確分析關聯器件和部件的輻射特性及射頻抗擾度特性。
測量應用：
芯片、器件、模組件抗擾度（RS）測量；
射頻抗干擾（Desense）測量；
板級輻射抗擾度（RS）測量；
射頻干擾（RFI）診斷測量；
性能參數：
型號：IS32 頻段范圍：500MHz~6GHz
空間分辨率: 0.02mm
單次測量范圍：30cm* 40cm
測量一致性：±2dB測量；
測量模式：2G/3G/4G LTE/5G/BT/WIFI/GPS/北斗導航/FM等